JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線(xiàn)系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線(xiàn)系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
圖案布局:T型
線(xiàn)/空間尺寸:32種規(guī)格圖案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,

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